半導体は、家電、産業機器、自動車など私たちの身の回りの多くの物に使われており、我々の生活に必要不可欠なものになっています。 製品を安全に使用するためには、半導体の信頼性を確保することが必要であり、テスト開発はその中で重要な役割を担っています。
また近年、システム LSI の多機能化・高性能化に伴い、測定装置の高騰やテスト開発期間の長期化が顕著になっています。 こうしたテストコストの増大は、LSI 開発のトータルコストの増大につながります。
治具設計からテストプログラム開発、立ち上げ、評価、量産 に関わる半導体製造のテスト工程を、総合的にサポートします。 対応範囲は、新規テストプログラム開発、異なるテスターへのコンバージョンなど、半導体のテストに関わる全てです。
また、高効率なオペレーションや、テスト全般に関わる豊富な経験を生かした作業の効率化を図ることで、タイムリーかつ短 TAT での立ち上げを実現します。 マルチサイト測定やテスト時間の短縮にも意識的に取り組み、テストコストの軽減に貢献することで、LSI 開発のトータルコストの減少に寄与します。
対応テスター
ADVANTEST : T2000IPS、T66xx/T65xx シリーズ、T7721/T7722/T7723 シリーズなど
TERADYNE : J750、Ultra Flex など
対応業務
新規アプリケーション開発、テスター間プログラム変換、パフォーマンスボード設計、など
